介绍
单片机（MCU）的ADC（模数转换器）组件是基础电子设备的必要组成部分。在某些应用中，需要测量一些物理量，如温度，电压，电流等。ADC能够将这些物理量转换为数字形式，以便于CPU以后的处理。但是，单片机的ADC计量算法是工程师们需要考虑的难点。正确的算法能够更准确地测量信号，为高品质的应用提供坚实的基础。
通用的问题
单片机ADC模块的测量要素不多，但却很重要。ADC模块生产的值在ADC电压参考电源（VREF）中确定。对于某些应用，恰当地计算和补偿ADC模块测量方法非常重要，以保证得到准确的结果。以下是一些通用的问题：
- 正在测量的物理量的分辨率
- 输入应用的信号范围
- ADC模块的参考电压源
- 电源干扰
常见的ADC计量算法
常见的ADC计量算法如下：
- 简单取值：这是最简单的计量算法之一，适用于信号范围比参考电压低很多的应用。信号通过AD转换器转换为整数值，再乘以零到原始信号范围的比例，以获取实际测量值的整数
- 线性内插：对于信号范围比参考电压大很多的情况，线性内插可能是一种更好的选择。此外，如果ADC模块输出的是不正确的线性度（例如，源同步等原因），那么线性内插也是很好的补救方法。使用此算法，必须知道两个点（X1，Y1）和（X2，Y2），其中每个点的坐标为电压和测量输出值。对于用户输入的电压，可以添加以下对应的计算来获取ADC获得的真实值：
#
代码如下：
val = Y1 + (Y2 - Y1) * (vin - X1) / (X2 - X1); - 误差表示和拟合（LM算法）：LM算法是一种数据逼近方法，可以有效地提高测量精度。该算法的原理是估计一个步长因子满足逼近误差的最小值，同时也满足实际ADC出的误差上限。此方法需要更多的处理能力，但可以提高整个系统的精度
结论
在选择正确的ADC计量算法方案时，需要考虑测量系统的特定要素。常见的算法有简单取值，线性内插和LM算法。作为工程师，需要理解这些算法的工作原理、优点和缺点，并在实际应用中加以应用。
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